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便携式镀层测厚仪与霍尔效应原理

 发布时间:2016-08-17 点击量:497
   便携式镀层测厚仪的霍尔效应是一种磁电效应,是德国物理学家霍尔1879年研究载流导体在磁场中受力的性质时发现的。是指磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时,产生横向电位差的物理现象。
 
  由于通电导线周围存在磁场,其大小与导线中的电流成正比,故可以利用霍尔元件测量出磁场,就可确定导线电流的大小。利用这一原理可以设计制成霍尔电流传感器。其优点是不与被测电路发生电接触,不影响被测电路,不消耗被测电源的功率,特别适合于大电流传感。
 
  如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在物体上,当装在运动物体上的永磁体经过它时,可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数,则可以确定其运动速度。
 
  根据霍尔效应原理,人们用半导体材料制成霍尔元件便携式镀层测厚仪,它具有对磁场敏感、结构简单、体积小、频率响应宽、输出电压变化大和使用寿命长等优点,因此,在测量、自动化、计算机和信息技术等领域得到广泛的应用。
 
  目前市场常用的霍尔效应测厚仪有便携式镀层测厚仪,都是用于测量非铁磁性材质的厚度,如塑料瓶,玻璃瓶的厚度。

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